1、外表?xiàng)l件的影響

　　進(jìn)入到穩(wěn)態(tài)丈量，構(gòu)成總電流IT的重要電流分量——外表漏電流IL將極大的影響絕緣電阻的丈量。繞組外表漏電流IL主要遭到以下幾個(gè)要素的影響：

　　槽外側(cè)的繞組外表呈現(xiàn)的油及碳粉；

　　在大型機(jī)組或直流電機(jī)中具有相對(duì)較大暴露爬電外表積，造成外表漏電流會(huì)十分高；

　　在繞組端部中選用了應(yīng)力可控半導(dǎo)體材料涂層，其包含雜質(zhì)，將導(dǎo)致外表漏電流增加；

　　絕緣外表中的粉塵（或鹽），在干燥情況下是非導(dǎo)電狀況，但當(dāng)暴露于濕潤(rùn)或油環(huán)境中，將會(huì)部分轉(zhuǎn)換為導(dǎo)電狀況，因此，降低絕緣阻值。

　　所以，因?yàn)樯鲜鲆厮鶐?lái)的污染造成絕緣電阻或極化指數(shù)下降，可通過(guò)繞組清潔或干燥方式恢復(fù)電機(jī)絕緣。

　　2、濕潤(rùn)影響

　　絕緣外表構(gòu)成潮氣的要素：

　　因?yàn)槔@組溫度低于環(huán)境的凝露點(diǎn)，而構(gòu)成一層潮氣，與繞組外表是否清潔無(wú)關(guān)；

　　某些類(lèi)型的繞組絕緣體系所選用的材料與結(jié)構(gòu)本身具有很強(qiáng)的吸濕性；

　　關(guān)于熱態(tài)的電機(jī)，在進(jìn)行絕緣測(cè)驗(yàn)時(shí)，一般在繞組溫度下降到凝露點(diǎn)以下進(jìn)行丈量。而關(guān)于長(zhǎng)時(shí)刻沒(méi)有運(yùn)轉(zhuǎn)的設(shè)備（一起沒(méi)有投入空間加熱器等），需求對(duì)進(jìn)行干燥處理。當(dāng)時(shí)還沒(méi)有將在必定濕度環(huán)境下丈量的絕緣阻值轉(zhuǎn)換到不同濕度環(huán)境下的絕緣阻值的有效方法。需求留意的是，若繞組外表遭到污染，或呈現(xiàn)絕緣破損情況，潮氣影響將會(huì)愈加明顯。

　　3、 溫度的影響

　　關(guān)于給定的絕緣體系，溫度的增加，將為絕緣材料中更多載流子供給的移動(dòng)能量，導(dǎo)致絕緣材料中開(kāi)釋更多流子，使絕緣材料電阻率降低。在某時(shí)刻下進(jìn)行絕緣測(cè)驗(yàn)時(shí)，將影響到總電流IT的電流分量——傳導(dǎo)電流IG，所以丈量的絕緣阻值與電機(jī)繞組溫度的聯(lián)系是成反比例的。

　　基于此，在進(jìn)行絕緣丈量時(shí)，需求記載當(dāng)時(shí)的環(huán)境溫度，并盡量確保與歷史丈量記載的環(huán)境條件共同，若無(wú)法確保，需求將對(duì)應(yīng)環(huán)境溫度所丈量的絕緣阻值一致歸算到一個(gè)溫度下以利于進(jìn)行對(duì)比，西門(mén)子引薦基準(zhǔn)溫度為25℃。

　　4、 測(cè)驗(yàn)電壓幅值的影響

　　測(cè)驗(yàn)電壓幅值與絕緣電阻的聯(lián)系：

　　理論上，在不超越額外電壓峰值的任意測(cè)驗(yàn)電壓作用下都應(yīng)獲得相同的絕緣阻值；

　　在實(shí)際情況中，隨著測(cè)驗(yàn)電壓等級(jí)的增加，絕緣阻值將略微下降；

　　在杰出絕緣情況下，并完全干燥狀況時(shí)，在測(cè)驗(yàn)電壓逐步升高而絕緣阻值明顯的下降，很可能表示絕緣存在問(wèn)題。這些問(wèn)題很有可能是因?yàn)榻^緣體系存在瑕疵或破損，也有可能是污染或潮氣的引起，或其他情況所導(dǎo)致的；

　　當(dāng)選用超出電機(jī)額外電壓以上的測(cè)驗(yàn)電壓將給絕緣阻值帶來(lái)明顯的改變。

　　5、 剩下電荷對(duì)絕緣阻值丈量的影響

　　若在絕緣中存在剩下或未開(kāi)釋的極化電荷，將導(dǎo)致絕緣電阻丈量呈現(xiàn)差錯(cuò)。因此，在丈量絕緣電阻之前，繞組有必要完全放電。

　　相同，在通過(guò)較高直流測(cè)驗(yàn)電壓進(jìn)行絕緣繞組丈量之后，有必要將繞組接地，其持續(xù)時(shí)刻不該低于繞組充電時(shí)刻的4倍，一方面有利于安全，另一方面有利于接下來(lái)絕緣測(cè)驗(yàn)精度